脉知技术超高压差分探头在特高压器件测试的应用

发布时间
2026-09-16
分类
技术分享
作者
meastek_admin
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特高压器件串联测试的核心难点在于均压控制:静态不均源于器件漏电流差异导致阻断电阻不同,电压集中至阻断电阻更高的器件;动态不均则因开通慢或先完成反向恢复的器件瞬间承受全部过电压。

超高压差分探头MDP4000K系列

MDP4020K — 通用型超高压差分测量,配合高带宽示波器实现20kV高压波形无失真采集,共模干扰抑制比≥120dB,精准捕捉串联支路各器件的电压分配波形,为均压调试与器件筛选提供可靠数据支撑,助力特高压器件批量化测试稳定运行。

MDP4020K核心优势:
1、量程匹配:±20kV差分电压量程,完全覆盖20kV直流信号测量需求
2、DC~50MHz带宽:可同时捕获直流分量和开关电源产生的高频纹波/尖峰噪声
3、高共模抑制:共模电压范围±20kV,适合浮地高压环境
4、高输入阻抗:100MΩ输入阻抗 + <2.5pF输入电容,对被测电路影响极小
5、衰减比5000X:将20kV衰减至4V输出,适配标准示波器1MΩ输入

接线方式:

1、直流母线正极 ──→ 探头红色输入端

2、直流母线负极 ──→ 探头黑色输入端

3、探头BNC输出 ──→ 示波器CH1(1MΩ输入阻抗)